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明导白皮书免费下载:使用诊断驱动的良率分析克服系统性良率限制因素

摘要 诊断驱动的良率分析 (DDYA) 技术利用生产测试结果、批量扫描诊断和统计分析来查找 IC 芯片中导致良率损失的原因。它能协助逐步提升新制造工艺的良率,改善成熟工艺的良率,以及满足汽车 IC  ...查看更多

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明导白皮书免费下载:Silicon Creations 采用 AFS Platform 进行高性能 7nm IP 验证

摘要 虽然迁移到更小工艺几何图形有许多好处,例如降低功耗及提升性能,但设计复杂性的增加给快速高效的仿真技术带来了更大的负担。此外,快速准确的电阻/电容 (RC) 提取也变得愈发重要。互连电阻在路径总 ...查看更多

明导白皮书免费下载:根据 S 参数计算时域阻抗曲线的挑战与方法

数十年来,几乎所有的数位高速系统设计人员与制造商都面临着必须考虑高频PCB设计方面的挑战,特别是关于最佳资料转换率只可能在具有正确阻抗率的传输路径上实现。电缆和连接器的时域阻抗曲线一直都是一项非常重要 ...查看更多

明导白皮书免费下载:设计符合ISO 26262的PCB

汽车行业是“现代工业皇冠上的明珠”,现如今汽车早已走进千家万户,成为必不可少的生活必需品。近些年,随着汽车电子相关技术的发展,汽车上电子/电气设备数量不断增加。截至目前位置,一 ...查看更多

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